O próximo mes de setembro terá lugar a formación: Fundamentos e aplicacións da microscopía electrónica de varrido (SEM) e FIB (Focused Ion Beam) en CINTECX, de 12h de duración – 8 h de formación básica teórica + 4 h de aplicacións e equipos.
As inscricións abrirán a principios de setembro, pero desde CINTECX aconsellan reservar xa as datas:
- Formación básica teórica: 24 e 26 de setembro e 1 e 3 de outubro, de 16:00 a 18:00.
- Formación en características e aplicacións de equipos SEM básicos: impartirase unha mañá da semana do 7 ao 11 de outubro (aínda por definir).
Instrutores:
- A formación básica teórica será impartida por José Benito Rodríguez González, Director de centros de apoio de investigación. Benito Rodríguez ten unha dilatada experiencia como técnico e usuario súper-avanzado dos equipos de microscopía electrónica do CACTI e do INL (International Iberian Nanotechnology Laboratory).
- A formación nas características e aplicacións de equipos SEM básicos impartirase por un técnico da casa comercial.
Descrición do curso:
Parte de Formación básica teórica. Programa:
- Presentación e introducción: (1 hora)
- Bibliografía recomendada.
- Software recomendado para o seu uso en microscopía electrónica.
- Introdución e bases teóricas da microscopía electrónica.
- SEM: Microscopio Electrónico de Varrido (scanning electron microscope) (2 horas)
- Fundamentos, funcionamiento e compoñentes do SEM.
- Obtención de imaxes en SEM.
- Preparación de mostras en SEM.
- Exemplos aplicación en SEM.
- FIB: Feixe de Ións Focalizado (Focused ion beam) (2 horas)
- Fundamentos, funcionamiento e compoñentes do FIB.
- Produción de lamelas para TEM mediante o FIB.
- Exemplos e outras aplicacións do FIB.
- Outras técnicas asociadas a SEM: (2 horas)
- EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy).
- WDS (Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy).
- EBSD (Electron backscatter diffraction).
- Catodoluminiscencia.
- Seminario Práctico (1 hora).
Parte de equipos e aplicacións:
Un técnico da casa comercial explicará as características básicas e aplicacións dos equipos SEM básicos de JEOL.
