Fundamentos y aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y FIB (Focused Ion Beam)

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Fundamentos y aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y FIB (Focused Ion Beam)

septiembre 24 - 4:00 pm | octubre 11 - 6:00 pm

Fundamentos e aplicacións da microscopía electrónica de varrido (SEM) e FIB (Focused Ion Beam)

El próximo mes de septiembre tendrá lugar la formación: Fundamentos y aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y FIB (Focused Ion Beam) en CINTECX,  de 12h de duración – 8 h de formación básica teórica + 4 h de aplicaciones y equipos.

Las inscripciones abrirán a principios de septiembre, pero desde CINTECX aconsejan reservar ya las fechas:

  • Formación básica teórica: 24 y 26 de septiembre y 1 y 3 de octubre, de 16:00 a 18:00.
  • Formación en características y aplicaciones de equipos SEM básicos: se impartirá una mañana de la semana del 7 al 11 de octubre (aún por definir).

 Instructores:

  • La formación básica teórica será impartida por José Benito Rodríguez González, Director de centros de apoyo de investigación. Benito Rodríguez tiene una dilatada experiencia como técnico y usuario súper-avanzado de los equipos de microscopía electrónica del CACTI y del INL (International Iberian Nanotechnology Laboratory).
  • La formación en las características y aplicaciones de equipos SEM básicos se impartirá por un técnico de la casa comercial.

Descripción del curso:

Parte de Formación básica teórica. Programa:

  1. Presentación e introducción: (1 hora)
  • Bibliografía recomendada.
  • Software recomendado para su uso en microscopía electrónica.
  • Introducción y bases teóricas de la microscopía electrónica.
  1. SEM: Microscopio Electrónico de Barrido (scanning electron microscope) (2 horas)
  • Fundamentos, funcionamiento y componentes del SEM.
  • Obtención de imágenes en SEM.
  • Preparación de muestras en SEM.
  • Ejemplos aplicación en SEM.
  1. FIB: Haz de Iones Focalizado (Focused ion beam) (2 horas)
  • Fundamentos, funcionamiento y componentes del FIB.
  • Producción de lamelas para TEM mediante el FIB.
  • Ejemplos y otras aplicaciones del FIB.
  1. Otras técnicas asociadas a SEM: (2 horas)
  • EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy).
  • WDS (Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy).
  • EBSD (Electron backscatter diffraction).
  • Catodoluminiscencia.
  1. Seminario Práctico (1 hora).

Parte de equipos y aplicaciones:

Un técnico de la casa comercial explicará las características básicas y aplicaciones de los equipos SEM básicos de JEOL.

Detalles

Comienza:
septiembre 24 - 4:00 pm
Finaliza:
octubre 11 - 6:00 pm
Categoría del Evento:
Etiquetas del Evento:
,
Web:
https://cintecx.uvigo.es/es/event/curso-microscopia-electronica-de-barrido-sem/

Organizador

Cintecx
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Local

Cintecx
Campus Universitario Lagoas-Marcosende
Vigo, Pontevedra 36310 España
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